Состав системы:
Система приборов состоит из постоянного магнита, высокоточного источника постоянного тока, высокоточного вольтметра, держателя образца на эффекте Холла, стандартного образца, высокоточного измерителя Гаусса и системного программного обеспечения. Эффектор DX-320, специально разработанный для этой инструментальной системы, включает в себя источник постоянного тока, шестиразрядный полумикровольтметр и сложный переключающий релейный переключатель для измерения Холла, что значительно сокращает количество проводов и проведение эксперимента. DX-320 можно использовать в качестве источника постоянного тока и микровольтметра. Он используется для измерения концентрации носителей, подвижности, удельного сопротивления, коэффициента Холла и других важных параметров полупроводниковых материалов. Эти параметры необходимо контролировать заранее, чтобы понять электрические характеристики полупроводниковых материалов. Таким образом, система испытаний на эффекте Холла является необходимым инструментом для понимания и изучения электрических характеристик полупроводниковых приборов и материалов. Результаты эксперимента автоматически рассчитываются с помощью программного обеспечения, и одновременно могут быть получены концентрация объемных носителей, концентрация пластинчатых носителей, подвижность, удельное сопротивление, коэффициент Холла, магнитосопротивление.

Тестируемые материалы :

Физические характеристики :

Плотность носителей 10*3см-3 ~10*23см-3 Мобильность 0,1см2 /вольт*сек ~ 10*8см2/вольт*сек Удельное сопротивление 10*-6 Ом*см~10*7 Ом*см Напряжение Холла 1 мкВ ~ 3 В Коэффициент Холла 10*-5 ～ 10*27см-3/С

Тестируемый
Тип материала
полупроводниковый материал SiGe, SiC, InAs, InGaAs, InP, AlGaAs, HgCdTe и феррит и т. д. Материал с низким импедансом
Графен, металл, прозрачный оксид, слабомагнитный полупроводниковый материал, материал TMR и т. д.
Материал с высоким импедансом.

Полуизолирующий GaAs, GaN, CdTe и т. д.

Проводящие частицы
материалы
Материалы P-типа и N-типа

Поле
Среда
Тип магнитного поля

Постоянные магниты серии NMR
Магнитное поле
500мТ
(расстояние между полюсами: 18 мм)
Необязательное поле
По требованию клиента мы можем настроить размер постоянного магнита.

Электрические параметры
Источник тока 50,00 нА-50,00 мА
Разрешение источника тока 0,0001 мкА
Измерение напряжения 0～±3В
Измерение напряжения
разрешение
0,0001мВ

Температура
среда
Комнатная температура
Другой
аксессуары
Свойство затенения
Внешняя установка компонентов затемнения делает испытание
материал более стабильный
Размер образца Макс. 30 мм*30 мм. Калибровочный образец.
1 комплект (Si, GaAs,ITO), предоставлен Институтом полупроводников Китайской академии наук.
Создание омических контактов Электрический паяльник, индиевый лист, припой, эмалированная проволока и т. д.

№ Тестовый образец

материал
Параметры тестового образца
Дисплей тестового образца
001

Толщина образца Si: 0,043 см. Испытательный ток: 1 мА.
Напряжение Холла: 3,903 мВ
Коэффициент Холла: 3356,34 см³/К Концентрация носителей: 1,86*10^15 Подвижность: 233,115 см2/В·с Удельное сопротивление: 14,397 Ом·см
002

Толщина образца GaAs: 0,0002 см. Испытательный ток: 0,01 мА.
Напряжение Холла: -28,2384 мВ
Коэффициент Холла: -11295,36 см³/К Концентрация носителей: 5,53*10^14 Подвижность: 6797,295 см2/В·с Удельное сопротивление: 1,6617 Ом·см
003

Толщина образца GaN: 0,0004 см. Испытательный ток: 20 мА.
Напряжение Холла: -7,121 мВ
Коэффициент Холла: -2,848 см³/К Концентрация носителей: 2,19*10^18 Подвижность: 238,245 см2/В•с Удельное сопротивление: 0,01195 Ом•см
004

Толщина образца прозрачного оксида: 0,053 см. Испытательный ток: 0,01 мА.
Напряжение Холла: -18,2332 мВ
Коэффициент Холла: -1939058 см³/C Концентрация носителей: 3,23*10^12 Подвижность: 498,7153 см2/В•с Удельное сопротивление: 3862,74 Ом•см

005

Толщина образца сплава: 0,108 см. Испытательный ток: 20 мА.
Напряжение Холла: -0,0011 мВ
Коэффициент Холла: -0,1152 см³/К Концентрация носителей: 6,02*10^18 Подвижность: 132,7011 см2/В•с Удельное сопротивление: 0,00084 Ом•см
006

Толщина образца графена: 3,40*10 ^-8 см. Испытательный ток: 0,3 мА.
Напряжение Холла: 8,4843 мВ
Коэффициент Холла: 0,0191 см³/К Концентрация носителей: 3,25*10^20 Подвижность: 153,3448 см2/В·с Удельное сопротивление: 0,00012 Ом·см
007
Толщина образца InSb: 0,0001 см. Испытательный ток: 10 мА.
Напряжение Холла: -998,7382 мВ
Коэффициент Холла: -1999,7476 см³/К Концентрация носителей: 3,13*10^16 Подвижность: 34305,52 см2/В•с Удельное сопротивление: 171,74 Ом•см

001
Дх-50
Постоянный магнит 1. Оба конца представляют собой постоянные магниты высокой стабильности, а значение магнитного поля составляет 500 мТл (конкретное значение зависит от фактических измерений).
2. Расстояние между двумя постоянными магнитами составляет 18 мм, диаметр полюса — 48 мм, диаметр поверхности полюса — 33 мм.
3. Постоянный магнит представляет собой серию постоянных магнитов ЯМР с хорошей стабильностью и равномерным магнитным полем. Однородность однородной области составляет 1 ~ 5 * 10-5.
4. По требованию клиента мы можем настроить соответствующий магнитный размер постоянного магнита.
сотрудничать с тестовым экспериментом на эффекте Холла

002
Дх-320
Источник постоянного тока
и электросчетчик 1. Базовое разрешение токового выхода составляет 0,0001 мкА, а разрешение измерения напряжения — 0,0001 мВ.
2. Диапазон выходного сигнала: 50,00 нА-50,00 мА, шаг 0,1 нА можно плавно регулировать.
3. Измерительное напряжение: 0～± 3В, испытательное напряжение большого диапазона.
для удовлетворения требований испытаний чипа с высоким сопротивлением
4. Встроенная четырехфазная плата с автоматическим преобразованием позволяет осуществлять автоматическое измерение эффекта Холла по методу Вандерберга.
5. Хороший интерфейс взаимодействия человека с компьютером, удобный для пользователей для ручной настройки.
6. Полные инструкции для ПК, могут общаться с
компьютер для завершения операции